Современная электроника №8/2023

ПРОЕКТИРОВАНИЕ И МОДЕЛИРОВАНИЕ 69 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА • № 8 / 2023 Заключение Таким образом , эффективность пода - вления синфазных и дифференциаль - ных помех СФ может быть оценена при помощи разных показателей , к числу которых можно отнести характеристи - ки частотной избирательности , фазо - вого сдвига , ослабления импульсных помех по амплитуде , электрической площади , энергии . Совокупность характеристик , применяемых для кон - кретного СФ , определяется его назна - чением , а также наличием априорной информации о помеховой обстановке в электросети . Зачастую её точное опи - сание может быть дано только в веро - ятностных категориях , например , в терминах частоты появления помех с заданной энергетикой . В этой свя - зи целесообразно использовать поня - тие типовой помехи с обоснованными для конкретной питающей сети пара - метрами . Как это было продемонстрирова - но выше , осциллография позволяет измерить практически любые харак - теристики , необходимые для оцен - ки показателей эффективности СФ представленной выше номенклату - ры . Осциллографы фирмы Rigol серии DSO70000 реализуют функции автома - тических измерений и математической обработки , что существенно упроща - ет и ускоряет проведение таких иссле - дований . Для построения амплитудно - частот - ных и фазо - частотных характеристик СФ в полосе частот до 25 МГц могут использовать встроенные генера - торы сигналов , опционально уста - навливаемые в осциллографы Rigol некоторых серий , например , в прибо - ры MSO8000. Полная автоматизация таких измерений достигается приме - нением опций построения диаграмм Боде . Наконец , при помощи этих же генераторов могут быть синтезиро - ваны ИПС , и тогда АЧХ могут быть построены альтернативным спосо - бом – на основе быстрого преобразо - вания Фурье . Таким образом , современные осцил - лографы , включая приборы Rigol серии DSO70000, при наличии неко - торых опций позволяют проводить измерения любых значимых харак - теристик сетевых фильтров без при - влечения дополнительных средств измерений . Литература 1. Уильямс Т . ЭМС для разработчиков про - дукции / пер . с англ . В . С . Кармаше - ва , Л . Н . Кечиева . М .: Издательский дом « Технологии », 2003. 540 с . 2. Лемешко Н . В . Обеспечение ЭМС изде - лий современной электроники // Автор - ский курс повышения квалификации . НОЧУ ДПО « Новая инженерная шко - ла », 2018 г . 3. ГОСТ Р 51317.4.6-99 « Совместимость технических средств электромагнитная . Устойчивость к кондуктивным помехам , наведённым радиочастотными элек - тромагнитными полями . Требования и методы испытаний ». М .: Издательство стандартов , 2000. 30 с . 4. ГОСТ 32144-2013 « Электрическая энер - гия . Совместимость технических средств электромагнитная . Нормы каче - ства электрической энергии в системах электроснабжения общего назначения » М .: Стандартинформ , 2014. 16 с . 5. Жежеленко И . В ., Короткевич М . А . Элек - тромагнитная совместимость в элек - трических сетях . Минск : Высшая школа , 2012. 197 с . 6. ГОСТ Р 51317.3.8-99 « Совместимость технических средств электромагнитная . Передача сигналов по низковольтным электрическим сетям . Уровни сигна - лов , полосы частот и нормы электромаг - нитных помех ». М .: ИПК Издательство стандартов , 2000. 16 с . 7. Грязнов М . И . Интегральный метод измерений параметров импульсов . М .: Советское радио , 1975. 280 с . 8. Баскаков С . И . Радиотехнические цепи и сигналы : учебное пособие для вузов . М .: Высшая школа , 2003. 462 с . 9. ГОСТ 30804.4.2-2013 « Совместимость технических средств электромагнитная . Устойчивость к электростатическим раз - рядам . Требования и методы испыта - ний ». М .: Стандартинформ , 2014. 50 с . 10. ГОСТ 30804.4.4-2013 « Совместимость технических средств электромагнит - ная . Устойчивость к микросекундным импульсным помехам большой энер - гии . Требования и методы испытаний ». М .: ИПК Издательство стандартов , 2000. 25 с . 11. ГОСТ 51317.4.5-99 « Совместимость технических средств электромагнит - ная . Устойчивость к наносекундным импульсным помехам . Требования и методы испытаний ». М .: Стандартин - форм , 2014. 21 с . 12. Кечиев Л . Н . Проектирование печатных плат для цифровой быстродействующей аппаратуры . М .: ООО « Группа ИДТ », 2007. 616 с . 13. Харкевич А . А . Спектры и анализ . М .: Государственное издательство технико - теоретической литературы , 1962. 236 с . 14. Лемешко Н . В ., Горелкин М . В ., Струнин П . А . Использование опции построения диаграмм Боде R&S RTM-K36 для измерения импеданса первичных преобразователей ультра - звуковых расходомеров // Современная электроника . 2021. № 8. С . 14–20. 15. Корякин В . С ., Кравчук Ю . В ., Лебедев О . В . и др . Измерители радио - помех / под ред . И . А . Фастовского . М .: Связь , 1973. 152 с . 16. Лемешко Н . В . Теоретические основы моделирования сертификационных испытаний радиоэлектронных средств по эмиссии излучаемых радиопомех . М .: МИЭМ , 2012. 196 с . НОВОСТИ МИРА Российский чипмейкер « Микрон » переходит на китайское оборудование На фоне практически полного отсут - ствия у России доступа к зарубежному обо - рудованию производитель полупроводни - ков « Микрон » переходит на применение в своём производстве необходимого обо - рудования от китайских компаний , а так - же из некоторых других стран , включая даже Беларусь . Как уточняет топ - менеджер « Микрона » Сергей Ранчин , предприятие старается уве - личить свои производственные мощности в плане выпуска полупроводниковой про - дукции по 90- нм технологическим нормам , однако в условиях установленных запретов по закупке передовых материалов , технологий и сервисов заводу приходится развивать произ - водство заменой « одной лошади на другую ». Ещё в прошедшем году представители « Ми - крона » открыто объявили о планах по увели - чениюк 2025 году объёмов по изготовлению кремниевых пластин под 90/180- нанометро - вые чипы с 3000 до 6000 единиц , что потребу - ет инвестиций в объёме около 10 млрд рублей . Кроме того , с 2022- го на « Микроне » от - мечается серьёзная перегруженность про - изводственных линий , а в будущем году завод должен приступить к созданию соб - ственных чипов , необходимых для выпуска SIM- карт с отечественной криптографией . techcult.ru