Современная электроника №6/2024

ВОПРОСЫ ТЕОРИИ 31 WWW.SOEL.RU СОВРЕМЕННАЯ ЭЛЕКТРОНИКА • № 6 / 2024 и до сих пор нерешённый вопрос разра - боткиспособовинтерпретациирезульта - тов испытаний , проводимых по действу - ющим базовым методикам на стойкость к комплексному воздействиюдестабили - зирующихфакторов в реальных условиях функционирования аппаратуры , то обра - тить внимание на существование задачи поразрешениюэтого вопроса . Очень важ - но учитывать , что любое моделирование имеет существенное отличие от реальных условий . Поэтому базовые методикииспытаний совершенствуются в направлении ориен - тации результатов радиационных испы - таний на разработчиков ЭРИ или РЭА . Литература 1. Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического приме - нения / К . И . Таперо , В . Н . Улимов , А . М . Чле - нов . М .: БИНОМ . Лаборатория знаний , 2012. 304 с . 2. Радиационная стойкость в оптоэлек - тронике / Ф . А . Заитов , Н . Н . Литвинова , В . Г . Савицкий , В . Г . Средин . М .: Воениздат , 1987. 166 с . 3. Райкунов Г . Г . Ионизирующие излучения космического пространства и их воздей - ствие на бортовуюаппаратуру космических аппаратов . М .: Физматлит , 2013. 256 с . 4. Надёжность и эффективность АСУ / под общ . ред . Ю . Г . Заренина . Киев : Техника , 1975. 368 с . 5. Патент 2 100 817, Российская Федера - ция , МПК G 01 R 31/08. Способ испы - таний на надёжность изделий элек - тронной техники : № 4902384/28: заявл . 14.01.1991: опубл . 27.12.1997 / Б . А . Ворон - цов , И . В . Куликов . 7 с . 6. ГОСТ 27.002-2015. Надёжность в технике : утверждён и введён в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированиюиметрологии от 21.06.2016 № 654- ст : дата введения 2017-03-01. 7. Борисов Ю . А . Прогнозирование радиа - ционного старения полупроводниковых материалов / Ю . А . Борисов , В . Ф . Гераси - мов , Н . Ю . Никифоров [ и др .] // Вопро - сы атомной науки и техники . Сер . Физи - ка радиационного воздействия на радио - электронную аппаратуру . 2013. Вып . 1–3. С . 174–176. 8. Materials Science and Engineering B100 (2003) 23/26. Institute of Solid State Physics, BulgarianAcademy of Sciences, An advantage of MOS structures with ultra thin oxide during irradiation. S. Kaschieva. 9. Мырова Л . О ., Чепиженко А . З . Обеспече - ние стойкости аппаратуры связи к ионизи - рующими электромагнитнымизлучениям . М .: Радио и связь , 1989. 297 с . 10. СиротаН . Н ., Чернышев А . А ., Коршунов Ф . П . Отжиг радиационных дефектов в кремниевых диодах , облучённых быстрыминейтронами // Тр . института тв . телаиполупроводников , 2012. С . 33–39. 11. Вавилов В . С ., Горин Б . М ., Данилин Н . С . и др . Радиационные методы в твердотельной электронике . М .: Радио и связь , 1990. 12. Коваленко А . К ., Королева Е . А ., Галеев А . П . и др . // Вопросы атомной науки и тех - ники . Сер . Физика радиационного воздей - ствия на радиоэлектроннуюаппаратуру 2015, вып . 9. С . 11–13. 13. Temprature dependence of radiation damage and its annealing in silicon detectors. H.J. Zioch and al. IEEE Trans. Nucl. Sci., 2021, vol. 68, N8, pt. 1, p. 1694–1700. 14. Stein H.J. Thermodynamic andmorphological analysis of large silicon self-interstitial clusters using atomic simulations. J. of Applied Phys., 117(2015), issued 3, April 07. 15. Гарнык B. С . Влияние характера рассея - ния на времяжизни неосновных носителей заряда в кремнии , легированном гафни - ем // Физика и техника полупроводников . 1994. Т . 28, вып . 2. С . 228–231. 16. Коршунов Ф . П ., БогатырёвЮ . В ., НосовЮ . П . Применение гамма - излучения для регулирования параметров серийных кремниевых диодов // Вопросы атомной наукии техники . Сер . Физика радиацион - ного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру . М ., 2009. Вып . 3. С . 5–8. 17. Чернышёв А . А . Основынадёжности полу - проводниковых приборов и интегральных схем . М .: Радио и связь , 1988. 18. Мамонтов А . П ., Чернов И . П . Эффект малых доз ионизирующих излучений . Томск : Дельтаплан , 2009. 288 с . 19. Арзамасцева Д . М ., Петров А . С ., Таперо К . И . Механизм деградациимощ - ных n- МОП транзисторов при воздействии электростатического разряда после пред - варительного гамма - облучения // Тезисы докладов 26- й Всероссийской научно - тех - нической конференции « Радиационная стойкость электронных систем » « Стой - кость -2023», НТ сборник , Лыткарино 6–7 июня 2023 г ., АО « НИИП ». С . 94–95. 20. Таперо К . И ., Петров А . С . Проблемные вопросыоценки радиационной стойкости солнечных батарей космического примене - ния // Вопросы атомной науки и техники . Сер . Физика радиационного воздействия на радиоэлектроннуюаппаратуру 2023. Вып . 4. С . 5–11. 21. Петров А . С ., Емельянов В . И ., Таперо К . И . и др . Сравнение различныхметодовмоде - лирования эффектовнизкойинтенсивно - стив биполярных операционных усилите - лях // Тезисыдокладов 26- йВсероссийской научно - техническойконференции « Ради - ационная стойкость электронных систем » « Стойкость -2023», НТ сборник , Лыткарино 6–7 июня 2023 г ., АО « НИИП ». С . 100–101. 22. Хамидуллина Н . М ., Черников П . С ., Зефи - ров И . В . Сравнение параметров одиночных эффектов , создаваемых ионизирующими излучениями космического пространства и радиоизотопных источников в РЭАмеж - планетных КА // Тезисыдокладов 26- й Все - российской научно - технической конферен - ции « Радиационная стойкость электрон - ных систем » « Стойкость -2023», НТ сборник , Лыткарино 6–7 июня 2023 г ., АО « НИИП ». С . 15–16. 23. Бакеренков А . С ., Чубунов П . А ., Бонда - ренко Н . А . и др . Анализ конфигурации чувствительных областей в диодных матри - цах 2 ДС 627/ ББ при воздействии ТЗЧ // Тезисыдокладов 26- й Всероссийской науч - но - технической конференции « Радиаци - онная стойкость электронных систем » « Стойкость -2023», НТ сборник , Лыткарино 6–7 июня 2023 г , АО « НИИП ». С . 137–138. 24. Бондаренко Н . А ., МальцеваМ . С ., Бабак Р . П . и др . Особенности подготов - ки и проведения испытаний регуляторов напряжения на стойкость к воздействию ТЧЗ // Тезисыдокладов 26- й Всероссийской научно - технической конференции « Ради - ационная стойкость электронных систем » « Стойкость -2023», НТ сборник , Лыткарино 6–7 июня 2023 г ., АО « НИИП ». С . 147–148. 25. Цветков А . И ., Лыков В . В ., Николь - ская Т . В . и др . Особенности сбоев флеш - памяти с интерфейсомпередачи данных SPI 16M бит W25Q16BV во время испы - таний на стойкость к воздействиюТЗЧ // Тезисыдокладов 26- й Всероссийской науч - но - технической конференции « Радиаци - онная стойкость электронных систем » « Стойкость -2023», НТ сборник , Лыткарино 6–7 июня 2023 г ., АО « НИИП ». С . 149–150. 26. Воробьёв Л . С ., Лыков В . В ., Шляев Т . В . и др . Особенности проявления микродозово - го эффекта (SEHE) при испытаниях цифро - вого потенциометра на стойкость к воздей - ствиюТЗЧ // Тезисыдокладов 26- й Всерос - сийской научно - технической конференции « Радиационная стойкость электронных систем » « Стойкость -2023», НТ сборник , Лыткарино 6–7 июня 2023 г ., АО « НИИП ». С . 151–152. 27. ЯковлевМ . В . Одиночные радиационные эффектыв элементах электроники // Вопро - сыатомнойнаукии техники . Сер . Физика радиационного воздействияна радиоэлек - троннуюаппаратуру 2023. Вып . 4. С . 13–16. 28. Иванова В . А ., Моргачёв Е . О ., Ореш - ко А . Ш . и др . Радиационные условия на орбитах мониторинга арктических реги - онов // Космонавтика и ракетостроение . 2023. Вып . 4(133). С . 106–112.